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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 功能材料測(cè)試儀器 > 高溫介電溫譜測(cè)試儀 > HCWP-1000MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀/測(cè)薄膜陶瓷簡要描述：MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀/測(cè)薄膜陶瓷，專用儀器是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。從專業(yè)角度來說，其實(shí)就是高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。主要用于絕緣材料在不同溫 度不同頻率下的電學(xué)測(cè)試，系統(tǒng)包含高溫爐膛，阻抗分析儀，微電流表，夾具，測(cè)試軟件于一體.
產(chǎn)品型號(hào)：HCWP-1000廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-12-08訪 問 量：2001產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | HUACE/北京華測(cè) | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,電氣 |
產(chǎn)品簡介：
華測(cè)高溫介電溫譜測(cè)試儀-專用儀器是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電測(cè)量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測(cè)量軟件組成，包括高溫介電測(cè)量儀主機(jī)、高溫介電測(cè)量系統(tǒng)軟件、高溫測(cè)試夾具、阻抗分析儀四個(gè)組成部分。根據(jù)測(cè)量需要，還可以外接真空油泵進(jìn)行真空環(huán)境的介電測(cè)量。高溫測(cè)試平臺(tái)是為樣品提供一個(gè)高溫環(huán)境；高溫測(cè)試夾具提供待測(cè)試樣品的測(cè)試平臺(tái)；阻抗分析儀則負(fù)責(zé)測(cè)試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。后，再通過測(cè)量軟件將這些硬件設(shè)備的功能整合在一起，形成一套由實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)到溫度控制、參數(shù)測(cè)量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。
系統(tǒng)介紹：
系統(tǒng)配置：Acer商用計(jì)算機(jī)，信號(hào)切換與控制系統(tǒng)，高溫儀及溫控系統(tǒng)，四通道夾具， 測(cè)試與數(shù)據(jù)采集軟件（軟件兼容同惠LCR表以及是德（安捷倫）E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析儀）；
輸入端口：四個(gè)BNC端口；
輸出端口：10個(gè)SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時(shí)）；
溫度范圍：室溫 850℃（額定溫區(qū)，長時(shí)間使用溫度），室溫1000℃（ji限溫區(qū)，短時(shí)間使用）；
系統(tǒng)屏蔽：通道切換主板預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì)，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性；
測(cè)試夾具：融石英與探針復(fù)合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復(fù)合結(jié)構(gòu)，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁。以保證長期高溫測(cè)試穩(wěn)定性；
同時(shí)測(cè)量樣品數(shù)：4個(gè)；
測(cè)試頻率范圍：20Hzzhi10 MHz(依據(jù)配套LCR表或阻抗分析儀頻率)，基本準(zhǔn)確度0.05%；
升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測(cè)溫精度±0.1℃
測(cè)試樣品直徑：2 mmzhi25 mm；
樣品厚度：0.02 mmzhi4 mm；
單樣品測(cè)試頻率數(shù)：少6個(gè)頻率測(cè)量功能；
變溫介電頻譜測(cè)試功能；
變溫阻抗測(cè)試功能。
應(yīng)用領(lǐng)域：
復(fù)合絕緣材料
高分子絕緣材料
無機(jī)絕緣材料
有機(jī)絕緣材料
其它絕緣材料等
技術(shù)參數(shù):
溫度范圍 | 室溫~1000℃ |
溫度精度 | ±1℃ |
測(cè)量精度 | 0.05% |
升溫速率 | 10℃ |
控溫方式 | PID |
頻率范圍 | 20HZ-30MHZ |
電極材料 | 鉑金 |
通道數(shù) | 通道 1 |
測(cè)量環(huán)境 | 常溫真空氣氛 |
通訊方式 | USB |
設(shè)備尺寸 | 600X400X650m |
MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀/測(cè)薄膜陶瓷
MLCC多通道介電溫譜/頻譜測(cè)試儀/測(cè)薄膜陶瓷
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